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產品分類CLASSIFICATION
QSense 石英晶體微天平
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詳細介紹
ALD樣品架的設計是芯片兩側開放,可防止芯片兩側的壓力變化不均勻,因而可以在低/高氣壓環境下進行測量。ALD樣品架通過線纜連接到樣品臺。測量信號通過兩個獨立的線纜穿過各種低壓或者高壓腔體傳送到QCM-D電子單元。
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